Towards a fault tolerant RISC-V softcore

As predicted by Gordon E. Moore in 1975, the number of transistors has doubled every two years over the last decades. This technology scaling led to a higher performance of Integrated Circuits (ICs) like processors, but have also made these devices more susceptible to Single Event Effects (SEEs). SEEs are caused by transistors changing state...

Zwermintelligentie voor een Self-Deploying Sensor Swarm

Dit document beschrijft de ontwikkeling van een simulator voor een Self-Deploying Sensor Swarm (SDSS). Daarnaast worden er ook twee mogelijke vormen van zwermintelligentie geïmplementeerd. Dit project is een onderdeel van een opdracht voor het Bachelor afstudeerproject op de TU Delft. Deze opdracht betreft het maken van een demonstratie van een...